การวัดความเรียบผิว เพื่อมาตรฐานอุตสาหกรรม

งานวิจัยเครื่องวัดความเรียบผิว : Flatness Tester คว้ารางวัลเกียรติคุณผลงานประดิษฐ์คิดค้นปี 2558

    สถาบันมาตรวิทยาแห่งชาติ (มว.) กระทรวงวิทยาศาสตร์และเทคโนโลยี วิจัยและผลิตเครื่องวัดความเรียบผิว : Flatness Tester สำหรับใช้วัดความเรียบของผิวชิ้นงาน มีคุณสมบัติเด่น ใช้งานง่าย มีความแม่นยำสูง และที่สำคัญมีราคาถูกกว่าชุดเครื่องมือสอบเทียบจากต่างประเทศถึง 10 เท่า จึงทำให้ผลงานชิ้นนี้สามารถคว้ารางวัลประกาศเกียรติคุณ ประเภทผลงานประดิษฐ์คิดค้นปี 2558 จากงาน “วันนักประดิษฐ์ ประจำปี 2558” จากสภาวิจัยแห่งชาติ เมื่อวันที่ 2 กุมภาพันธ์ 2558 ที่ผ่านมา

    เครื่องวัดความเรียบผิว : Flatness Tester ที่ทีมวิจัย ฝ่ายมาตรวิทยามิติ มว. ผลิตขึ้นมานี้ สามารถวัดชิ้นงานที่มีความเรียบตั้งแต่ 20 นาโนเมตร ถึง 2 ไมโครเมตร และมีความถูกต้อง  40 นาโนเมตร และสามารถใช้วัดชิ้นงานที่ทำจากวัสดุต่างๆ ไม่ว่าจะเป็นแก้ว เซรามิค หรือโลหะ ใช้โปรแกรมคอมพิวเตอร์ในการวิเคราะห์ จึงใช้งานง่าย ผู้ใช้ไม่จำเป็นต้องมีประสบการณ์ หรือทักษะพิเศษ ดังนั้น ผลการวัดจึงไม่มีความผิดพลาดที่เกิดขึ้นจากผู้ใช้งาน โดยสามารถนำมาใช้ในการสอบเทียบออพติคอลแฟลต และออพติคอลพาราแลล แทนเครื่องแฟลตเนสอินเตอร์ฟีรอมิเตอร์ที่ต้องนำเข้าจากต่างประเทศ ที่มีราคาสูงกว่า 2 ล้านบาท โดยออพติคอลแฟลต จะใช้ในการตรวจสอบความเรียบผิวของชิ้นงานอย่างเกจบล็อก ส่วนออพติคอลพาราแลล จะใช้ในการตรวจสอบความเรียบและความขนานของไมโครมิเตอร์ ซึ่งไมโครมิเตอร์ เป็นเครื่องมือวัดละเอียดชนิดหนึ่ง และเกจบล็อก เป็นอุปกรณ์ที่ใช้ในการสอบเทียบเครื่องมือวัดส่วนใหญ่ในสาขามิติ ที่มีใช้กันอย่างแพร่หลายในโรงงานอุตสาหกรรมที่ต้องมีการวัดขนาดชิ้นงานทุก ประเภท อาทิ อุตสาหกรรมยานยนต์ อุตสาหกรรมการผลิตชิ้นส่วน อะไหล่ต่างๆ เป็นต้น

    ในปัจจุบัน มว. ได้ผลิตและเริ่มจำหน่ายเครื่องวัดความเรียบผิว : Flatness Tester ให้กับภาคอุตสาหกรรมในราคา 200,000 บาท โดยผู้สนใจสามารถติดต่อสอบถามรายละเอียดเพิ่มเติมได้ที่ ฝ่ายมาตรวิทยามิติ โทรศัพท์ 02 577 5100 ต่อ 1216

ขอบคุณข้อมูลและรูปภาพจาก http://www.most.go.th/portalweb/index.php/overall-operation/4351.html

ขอบคุณวีดีโอจาก https://www.youtube.com/watch?v=gZY4l1m0vAs